緑内障診断にハイテク機器 試験導入

掲載日 2011-9-15 13:14:40 | トピック: 出版・放映情報

シンガポール国立眼科センター(SNEC)は緑内障の診断に、半導体チップを組み込んだハイテク機器の採用を計画しており、試験利用を開始した。 緑内障は眼球内の圧力が ...


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